一氧化碳試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào)： ZT-CTH-225A

所屬分類(lèi)：二氧化硫試驗(yàn)箱

產(chǎn)品時(shí)間：2021-03-04

簡(jiǎn)要描述：一氧化碳試驗(yàn)箱適用于對(duì)大型電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行各種有毒（害）氣體試驗(yàn)產(chǎn)品暴露于密閉無(wú)光照的含有毒（害）、腐蝕氣體濃度的空氣環(huán)境中，模擬在有毒（害）氣體惡劣環(huán)境條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量苛刻的要求與變化的分析。

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一、用途概述：

      一氧化碳試驗(yàn)箱適用于對(duì)電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行各種有毒（害）氣體試驗(yàn)產(chǎn)品暴露于密閉無(wú)光照的含有毒（害）、氣體濃度的空氣環(huán)境中，模擬在有毒（害）氣體惡劣環(huán)境條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量苛刻的要求與變化的分析。利用腐蝕氣體，在一定的溫度和相對(duì)的濕度的環(huán)境下對(duì)材料或產(chǎn)品進(jìn)行加速腐蝕，重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時(shí)間范圍內(nèi)所遭受的破壞程度。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、JOOWAY依據(jù)IEC 62716《太陽(yáng)能組件氨氣腐蝕測(cè)試》

2、GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》

3、IEC 68-2-60 試驗(yàn)方法 Ke：人造低濃度污染氣體腐蝕試驗(yàn)、

4、EN 60068-2-60-1996環(huán)境試驗(yàn)第2-60部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體

      的腐蝕試驗(yàn)      

5、GBT 2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ke 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)、?

二.規(guī)格及型號(hào):（用戶選型）
型號(hào): ZT-CTH-80A   內(nèi)形尺寸W×H×D  400×500×400mm

型號(hào): ZT-CTH-150A  內(nèi)形尺寸W×H×D  500×600×500mm

型號(hào): ZT-CTH-225A  內(nèi)形尺寸W×H×D  500×750×600mm

型號(hào): ZT-CTH-408A  內(nèi)形尺寸W×H×D  600×850×800mm

型號(hào): ZT-CTH-800A  內(nèi)形尺寸W×H×D  1000×1000×800mm

型號(hào): ZT-CTH-1000A 內(nèi)形尺寸W×H×D  1000×1000×1000mm

三.一氧化碳試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍：+5℃/0℃/-10℃/-20℃/-30℃/-40℃～+80℃（用戶選擇）

2、適用氣體(選用)：CO（一氧化碳）

3、測(cè)試介質(zhì): CO

4、濕度范圍：30%～R.H

5、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

6、溫度均勻度：≤±2℃

7、濃度值：Ppm. ％ .ppb. pphm. ％voL.

8、升溫速率：0.7～1.0℃/min

9、氣體濃度：1～50/200/500/1000/10000pphm

10、氣體流速：12～16mm/S

11、試樣架：2套

12、時(shí)間設(shè)定范圍：0～9999小時(shí)

13、使用電源：AC1Φ3W 220V50HZ±10%，AC3Φ5W 380V  50HZ±10%（接地）

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